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波長色散X射線熒光光譜儀是一種科學儀器,用于分析物質中的化學元素。它基于X射線熒光原理,通過照射樣品并測量由樣品發出的特定波長的熒光輻射來確定樣品中存在的元素及其相對含量。
日本理學波長色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus具有良好的性能和靈活性,能夠分析最復雜的樣品,它具有30微米的管子,這是業內較薄的終端窗口管,用于檢測極低的光譜元素(低Z)。結合zui先jin的測試包檢測均勻性和包涵體,ZSX Primus可輕松對樣品進行詳細調查,以提供其他分析方法不易獲得的分析見解。可用的多點分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。
波長色散X射線熒光光譜儀在材料科學、地質學、環境監測、金屬分析等領域得到廣泛應用。它提供了一種快速、準確、無損的方法來確定樣品中各種元素的含量,幫助科學家和工程師進行研究和質量控制。
波長色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評估的X射線熒光分析儀同時對各種薄膜的薄膜厚度和成分進行無損、非接觸式分析。這是一種波長色散X熒光光譜儀(WD-XRF),可以以非破壞性和非接觸方式同時分析尺寸達~200mm的晶圓上各種薄膜的厚度和組成。